选集 简介 作者

表面分析方法有数十种，常用的有离子探针、俄歇电子能谱分析和X射线光电子能谱分析,其次还有离子中和谱、离子散射谱、低能电子衍射、电子能量损失谱、紫外线电子能谱等技术，以及场离子显微镜分析等。这些表面分析方法的基本原理，大多是以一定能量的电子、离子、光子等与固体表面相互作用，然后分析固体表面所放射出的电子、离子、光子等，从而得到有关的各种信息。

沈仲鑫

沈仲鑫，美国著名的光纤激光器专家。中科院研究生院兼职教授，且同时在美国旧金山能量技术公司和Penrson Assessment and information公司工作，曾任上海电器厂军品生产技术协调员，助理工程师，同济大学讲师；美国加州大学访问学者、加拿大哥伦比亚大学访问教授。曾在加州大学物理系讲授光学六年。

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