选集 简介 作者

俄歇电子能谱分析， 用电子束 （或X射线）轰击试样表面，使其表面原子内层能级上的电子被击出而形成空穴，较高能级上的电子填补空穴并释放出能量，这一能量再传递给另一电子，使之逸出，最后这个电子称为俄歇电子。1925年法国的P.V.俄歇首先发现并解释了这种二次电子，后来被人们称为俄歇电子，但直到1967年俄歇电子能谱技术才用于研究金属问题。

沈仲鑫

沈仲鑫，美国著名的光纤激光器专家。中科院研究生院兼职教授，且同时在美国旧金山能量技术公司和Penrson Assessment and information公司工作，曾任上海电器厂军品生产技术协调员，助理工程师，同济大学讲师；美国加州大学访问学者、加拿大哥伦比亚大学访问教授。曾在加州大学物理系讲授光学六年。

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