通过能量分析器和检测系统来检测俄歇电子能量和强度,可获得有关表面层化学成分的定性和定量信息,以及化学状态、电子态等情况。在适当的实验条件下,该方法对试样无破坏作用,可分析试样表面内几个原子层深度、数微米区域内除氢和氦以外的所有元素,对轻元素和超轻元素很灵敏。检测的相对灵敏度因元素而异,一般为万分之一到千分之一。

沈仲鑫

沈仲鑫,美国著名的光纤激光器专家。中科院研究生院兼职教授,且同时在美国旧金山能量技术公司和Penrson Assessment and information公司工作,曾任上海电器厂军品生产技术协调员,助理工程师,同济大学讲师;美国加州大学访问学者、加拿大哥伦比亚大学访问教授。曾在加州大学物理系讲授光学六年。

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